TDM
變溫光學

全方位變溫光學測試解決方案
可根據需求搭配光譜儀及影像輝度儀
溫度範圍: -40~100度
可支援冷熱衝擊:低溫到高溫<20秒內，高溫到低溫<60秒內
非傳統TE cooler設計，改善:

•  只有下方接觸面到達設定溫度，但表面接觸空氣仍是常溫
•  上下大溫差產生熱應力會傷害樣品

腔體內氣體溫度即實際測試溫度
最大可支援產品尺寸1.5米

波色TDM變溫光學解決方案:

• 單點式輝度方案
• 單點式均勻度系統
• 視角量測系統
• 影響輝度色度系統