LMK 螢幕光度法

在許多照明應用中，發光強度（以 cd 為單位的 I）、照度（E 以 lx 為單位）或各種顏色空間（xy、uv、WST 等）中的色座標是人們感興趣的。

與順序掃描測角光度法相比，使用LMK（我們的成像亮度測量設備，或ILMD）可以在幾秒鐘內測量完整的發光強度分佈或得出的測量量，例如照度或光通量。這使得這種技術的速度提高了 100 倍以上。由於巨大的速度優勢，光分佈的高精度測量不僅限於研發實驗室，也可以在生產過程中甚至EOL測試中進行。

這種技術照亮幾何和光度精確測量的反射螢幕。然後，LMK 捕獲此螢幕的反射亮度。單個圖像的大小根據客戶的要求進行調整，並取決於客戶的規格（例如，所需的解析度）和可用的測量空間。在現代前照燈的開發中，可以達到0.005°的幾何解析度，或者可以達到±85°的孔徑角，例如，評估普通照明的燈具。