缺陷檢測
輝度分析

一次拍攝整個晶片，加快測試速度 影像輝度校正
可量測輝度均勻性
超高解析度，可辨識死點，亮線等
高解析度，大於3000萬圖元
亮度補償，得到每顆Pixel 輝度