CMOS影像晶片光學量測系統
量子效率，平場校正與眩光測試


波色科技提供評估CMOS影像晶片特性的光學量測系統。透過自行開發量子效率測試系統，平場校正與眩光測試系統，達成CMOS影像晶片光學測量全面解決方案。 主要功能包括： 量子效率測試系統: 可量測CMOS量子效率與主光角CRA。 平場校正與眩光測試系統:，可實施平場校正與透鏡眩光測試。

量子效率測試系統
可調波長光源 光斑> 25mm
光通量 > 1mW@nm
半高寬 = 5 ~ 10nm
波長範圍 : 380 ~ 1100nm
光均勻度>95%

平場校正與眩光測試系統
CCTV透鏡:
焦距 = 25 mm
視野角 = 23.3° x 31.7° @ 1.1" sensor
積分球:
直徑:300mm
最大開口直徑:100mm
Z軸高度調整範圍: 200mm
 
 

 
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